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Baker 集团有三个仪器装置在使用AVI-200主动隔振系统。我们的研究主要集中在扫描探针显微镜，其中是一个充满电解质的纳米移液管，用于绘制给定样品的局部离子电流或获取给定表面上的电流电压特性。图1（左）是我们的成像技术实验装置，称为SICM（扫描离子电导显微镜），专为浸在电解质中的亚微米分辨率的软性和非导电材料成像而设计。在成像过程中，我们发现我们的图像分辨率受背景噪声的限制。噪声源包括来自地板或泵和其他机械装置的环境振动。图1（右）是定制的仪器装置，用于通过将纳米移液管紧密地靠近基板来表征电流 - 电压响应。基于该装置的研究表明，隔振是必要的，因为在接近表面时获得的电流-电压曲线，表示纳米移液管探头的振动不可忽略。
基于我们在机械噪音环境中的所有上述测量结果，我们请求Herzan提供解决方案，以便提高我们的仪器性能。通过采用Herzan主动隔振系统，大大降低了环境噪声。
·使用纳米移液管的离子电流测量
·扫描离子电导显微镜（SICM）和定制的仪器装置（用于通过将纳米移液器靠近表面来表征电流 - 电压响应）
·Baker 集团、布鲁明顿印第安纳大学化学系
·AVI-200S主动隔振平台
图2. 经AVI-200隔振系统隔振后，纳米孔膜的SICM图像具有更高的分辨率。与图2（b）相比，图2（a）背景噪声更高。图3显示了经AVI-200隔振改进后的电流 - 电压曲线对比。
图1.（a）无AVI-200隔振的SICM图像。（b）AVI-200隔振后的图像。
图2.（a）无AVI-200隔振的电流 - 电压曲线。（b）AVI-200隔振后拍摄的电流 - 电压曲线
